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Charon 5000
支持尺寸达1.5米的大型天线球面近场测试系统。采用高精度弧形扫描导轨，基于天线物理模型的场源重构理论，具有相控阵天线的多波位快速测试能力，支持近场EIRP、G/T、GD和SFD等系统指标的测试。
产品参数
- 工作频段 7.5GHz~50GHz（可扩展至1GHz~50GHz）
- 外尺寸 8m×6.9m×5m(L×W×H)
- 屏蔽度 ≥70dB
- 被测件重量 ≤500kg
- 被测件尺寸 ≤1.5×1.5×1.5m
- 扫描半径 2.5m
- 扫描角度 φ：±90°；θ：0~180°。
- 分辨率 ±0.02°
- 测试不确定度 0.25dB（峰值增益）
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测试功能
天线性能：天线方向图（幅度/相位）、波束宽度、旁瓣电平、轴比、波束指向、相位中心等；
系统性能：EIRP、 G/T值、SFD、GD、单元诊断等；
Charon系列
通用测试提出了基于天线物理模型的场源重构理论，扩展了传统球面近场系统的测试能力。通用测试的相控阵天线快速测量系统Charon系列，除了具备传统球面近场对各类无源天线的测试能力，对于相控阵天线，可利用其单元阵中方向图和单元激励信息，通过几个波位的近场方向图采样，反演并预测得到其他所有波位的远场方向图，实现相控阵天线多波位快速测试。
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